Luceo 技术公司集数十年光电测试和工业系统设计经验，为电信用户提供业界最好的高速测试解决方案。业界的器件和系统设计工程师可依赖Luceo的产品和服务来验证高速光电器件设计的功能和质量。

     XBERT是一种低成本、模块化的误码测试平台，可用于验证和测试8Gb/s--11.3Gb/s和4.0-5.7Gb/s的光和电芯片，子系统及系统设计。ParalleXTM;允许用户使用单一时钟源同时进行多个误码测试。该系统是开发者希望对平行并列或多个独立接口同时进行误码测试时的理想选择。XBERT及ParalleXTM; 允许用户根据需要逐渐升级，以单一通道开始逐渐增加模块来提升系统功能。XBERT及ParalleXTM; 系统的可升级优点及后者的并行测试功能，可极大地帮助量产制造商节约成本。
 

XBERT 19"/2 Frame shown with PS, CDR, CLK DIV, XFP, EBERT, CLK Source

ParalleXTM 19" Frame shown with PS, 6-EBERTs, CDR and CLK Source