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NTT
 
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MAP-200免缠绕插回损仪
MAP-200 IL/RL Loss Test System
产品说明:

MAP-200多功能测试平台

JDSU推出的集光功能测试为一体的多功能测试平台,MAP-200(如图一所示)。用户可以直接将对应的MAP光开关模块,MAP光衰减器模块,MAP光功率计模块,MAP光滤波器模块,直接插入其插槽中使用。MAP-200是基于MAP而研发设计的,其集成度堪称业内最佳,易配置,成本低廉,使用方便,运行速度快,计算结果精确,节约空间,所以MAP-200将会是生产测试用户的最佳选择。

性能:
在80dB动态范围内可对短至70cm的光纤尾纤进行面缠绕回损测试
单插槽的快速、紧凑式解决方案,以及自动双向测试选件
提供单模、多模模块,波长:1310、1490、1550、1625nm; 850、1300nm激光光源,
可测量端接的凹型接头的ORL
超高IL测量精度,显示分辨率达+/-0.001dB
用于制造测试的灵活的交钥匙式软件平台
适用于研发用户的快速测量模式
配有光开关和积分球选件,可用于12芯和24芯MT光纤测试
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