English中文网站地图帮助
  产品目录
Test4
 
Test3
 
test2
 
test-2-2
NTT
 
NTT光連接器清潔器系列
精密测量设备(MTI)
 
非接触测量系统
晶元测试设备
材料机械性能试验机
光纤熔接与通讯施工
 
熔接设备及工具
光通讯施工测试
光纤清洁与检查方案
光纤跳线生产线
 
插芯散件
设备仪器
工具、耗材类
光通讯试验/测试
 
光学测试平台LTB-8
便携测试方案
传输测试40G 100G
光谱分析仪
误码仪
光器件粘合封装
 
紫外胶水
紫外固化系统
自动化耦合系统
Avago激光器
 
Chip/COC/TOCAN
TOSA/ROSA
VCSEL
光通信产品
 
商业及工业应用产品
晶振
无源器件
系统软件
  产品详情
DORC 单芯干涉仪
ZX-1 mini Interferometers
产品说明:
»干涉仪 »特性 »技术参数 »软件界面 →端检类


特性:

可测量PC/APC连接器,陶瓷插针,陶瓷插针毛坯,光纤切割平面,光纤切割斜面

软件自动测量曲率半径,顶点偏移,光纤高度,角度误差,光纤/陶瓷插针表面粗糙度,使用简单

自动校准,自动调焦,自动X、Y方向调节

分体设计,配合Thinkpad笔记本使用

可进行连接器调心

高精度和高重复性非接触式测量,测量时间不到一秒

对测试报告进行归档和统计分析

自动分析表面划痕

可控制常见的I/R测试仪

光纤高度测试范围可扩展至±6um

符合世界标准机构的测试方法

电控放大/缩小,检测和干涉条纹模式

抗震,防污设计

低维护,自动校准功能

 

 




夹具及配件

 资料下载
 
 »简介
 »操作手册


技术参数


重复性与再现性
测试参数 再现性 - One Sigma 重复性-One Sigma
曲率半径 0.25% 0.10%
顶点偏移 2.0um 0.5um
光纤高度 1.5nm 1.0nm
再现性基于50次反复拔插测试
重复性基于100次无拔插测试

测量范围
曲率半径 3mm-Flat
顶点偏移 0-500um
光纤高度 ±150nm (可扩展量程到±6um)

软件界面及QC报告

软件界面



 

 QC报告

 


»相关产品


DORC ZX-1 Array System Multi-Fiber Interferometer
  

主页 | 关于我们 | 合作伙伴 | 产品目录 | 常见问题 | 联系我们
粤ICP备2021025646号
Copyright@2009 www.comstarcom.com All Rights Reserved